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产品信息

InGaAs线阵扫描相机 C15333-10E

所属分类: 先进成像>> 相机


关键词:红外相机、短波红外、近红外、半导体

电 话:010 - 59780025

邮 箱:sales@topphotonics.cn



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商品描述

所属分类: 先进成像>> 相机


关键词:红外相机、短波红外、近红外、半导体

电 话:010 - 59780025

邮 箱:sales@topphotonics.cn






产品简介
SWIR(短波红外)成像是无损检测的绝佳解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料,并提供安全便捷的方法来保证产品质量,包括检查包装中的液体质量,检查密封容器里的内容以及检测农产品中的损坏和杂志等。另外,还可以在半导体工业中进行硅晶圆的太阳能电池缺陷检查。
将SWIR成像方式集成到产线中需要高行频,高灵敏度的相机,针对这些应用,滨松推出了新型InGaAs线阵扫描相机C15333-10E。

产品特点
•     SWIR高灵敏度,覆盖950 nm到1700 nm的光谱范围
•     大视场高分辨率,1024像素线阵
•     高行频输出,最大线路速率:40 kHz
•     紧凑轻巧的设计:49 mm (W) × 49 mm (H) × 100 mm (D) (Does not include protrusions.),
•     小巧轻便,重量约250克
•     高质量的图像以及优秀的矫正功能
•     GigE Vision接口

主要应用
•     食品和农产品(损坏检查,质量筛选,材料歧视等)
•     半导体(硅晶片图案检查,EL / PL的太阳能电池检查等)
•     工业(水分,泄漏检测,容器检查等)

光谱响应曲线

 参数指标

参数

指标

型号

C15333-10E

成像设备

InGaAs line sensor

有效像元数

1024H)×1V

像元尺寸

12.5μm×12.5μm

有效面积

12.8mmH)×0.0125mmV

满阱容量


Gain 0: 4.0 M electrons Gain 1: 0.76 M electrons 
Gain 2: 0.16 M electrons Gain 3: 0.051 M electrons


读出速度

Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time) Sync

readout: 40 kHz

曝光时间

21 μs to 1 s (1 μs step)

外部触发输入

Sync readout

图像处理功能

Background subtraction, Real time shading correction

接口

Gigabit Ethernet

A/D转换器

14 bit

镜头卡口

C Mount

供电

DC 12V

量子效率

above 60 % (1100 nm  1600 nm)

功耗

6W max

推荐环境工作温度

0 to +40

环境工作湿度

30%-80%(风冷无冷凝)

环境存储温度

-10 to +50

环境存储湿度

90%最大(无冷凝)



应用实例

半导体内部检测: