产品简介
ODM型高精度光延时测量仪采用微波光子学测量方法，可实现光纤长度等延时参数的精确测量。较传统的OTDR技术、色散测量技术，能成倍提升测量精度。本测量仪具有测量精度高、测量长度大、测量速度快、操作简便等优点。适用于高精度光纤传感、光子雷达等领域的精准延时测量。
ODM型高精度光延时测量仪的反射式工作模式，仅需一个端口连接待测光纤即可实时显示测量结果，测量准确。本仪器同时支持两端口直通测量，并可按客户需求进行硬件和软件上的定制服务。
主要特点
▪ 测量精度0.1mm，最大测量范围可达10km
▪ 支持反射式工作模式
▪ 测量速度快，接入即可获取测量结果
▪ 波长可选择，支持商用多波段的测量
▪ 光纤连接器可定制，适用于各种应用场合
▪ 支持多种折射率光纤的精确延时测量
▪ 测量数据可导出，便于后期处理
主要应用
▪ 光纤干涉器：精确测量光纤干涉器的臂差
▪ 光控相控阵雷达：精确控制雷达阵元光延时
▪ 光纤通信：精确测量通信系统中的信号延时
▪ 其他领域：其他需要精确测量光路延时的场合。
参数指标
参数
| 指标
|
工作波长
| 1310nm /1550nm（可定制其他波长）
|
工作模式
| 单模 / 多模（需定制）
|
距离刻度
| 百米级/千米级（需定制）
|
延时测量范围
| 50μs
|
长度测量范围
| 10km
|
取样时间
| 1.5 s/CH1
|
反射比动态量程
| -10~-108dB
|
反射比
| ±1dB
|
测试距离精度
| ±0.1mm（@＜100m）
|
延时测量精度
| ±0.5ps（@＜100m）
|
事件盲区
| ＜0.2mm
|
插入损耗测量精度
| ±0.1dB
|
输出光功率
| ＞5dBm
|
光路通道数
| 1CH（可扩展至16CH）
|
光纤类型
| SM9/125，MM50/125
|
连接器类型
| UPC / APC，FC、LC、ST、MT等
|
使用环境温度
| 0~40℃ ≤70%
|
整机重量
| ＜8kg
|
