产品简介
BOSA  超高分辨率光谱分析仪基于受激布里渊效应进行光谱分析,可以获得高达 0.08pm(10MHz)的光谱分辨率以及 80dB 的动态范围。可调激光光源(TLS)输出的光作为参考光,与信号光(待测光)在光纤介质中逆向传输,当信号光与参考光之间的波长差位于狭窄的布里渊放大窗口(0.08pm,10MHz)时,布里渊背向散射光增强。通过调谐 TLS 的输出波长,并探测布里渊背向散射光,从而实现对信号光的光谱分析。 

主要特点 
 
▪   超高分辨率0.08pm
▪   最高的波长精度0.5pm
▪   宽动态范围  >80dB
▪   实时测量改为 偏振态测量和分析
▪   实时测量 
▪   内置可调激光光源
▪   独有的相位光谱测量,啁啾测量,眼图、星座图测量功能 
▪   12.1英寸彩色触摸屏 
 主要应用 
▪   激光器特性分析 
▪   光纤通信调制格式分析 
▪   无源器件测量
▪   100G/400G收发模块测量
▪   调制格式测量:OFDM,Nyquist,QAM,DP-QPSK
▪   脉冲激光器&光学频率梳
参数指标
  | BOSA   400/100  | BOSA   Lite  | 
测量波段  | C, C+L, O, O+C+L  | C, C+L  | 
性能参数  | 
光学分辨率  | 10 MHz @1550 nm 10 MHz @1310 nm  | 20 MHz @1550 nm  | 
波长范围  | 1525-1565 nm (C) 1525-1615 nm (C+L) 1265-1345 nm (O) 1265-1345 nm, 1525-1615 nm (O+C+L)  | 1525-1565 nm (C) 1525-1605 nm (C+L)  | 
波长精度  | ±0.5 pm (C, C+L) ±1.0 pm (O)  | ±2.0 pm  | 
无杂散动态范围  | >80 dB  | 
| 近峰动态范围 | >40 dB @ ±0.2 pm >60 dB @ ±0.4 pm  | >40 dB @ ±0.8 pm >60 dB @ ±2.0 pm  | 
校准输入功率范围  | +13 to -70 dBm  | 
最大安全输入总功率  | +20 dBm  | 
灵敏度  | -70 dBm / 10 MHz  | 
功率精度  | ±0.5 dB  | 
偏振测量  | 两个正交偏振态 Option 30支持全偏振态测量  | 
扫描时间  | 20 nm/s  | 2.5 nm/s  | 
波长校准  | 有  | 可选配  | 
可选配置
  | BOSA400 / 100 / Lite  | 
测量波段  | C波段  | C+L波段  | O 波段  | 
Option 10 - 可调激光输出  | 
波长范围  | 1516-1565 nm  | 1521-1630 nm  | 1265-1345 nm  | 
绝对精度  | ±1.5 pm  | ±2.0 pm  | 
调谐速度  | 1-100 nm/s  | 
输出功率  | >1 mW  | 
边模抑制比  | >43 dB  | >45 dB  | 
RIN  | <-145 dB/Hz  | <-140 dB/Hz  | 
线宽  | <1 MHz  | 
触发输出  | BNC  | 
Option 20 – 器件分析  | 
波长范围  | 1516-1565 nm  | 1521-1630 nm  | 1265-1345 nm  | 
绝对精度  | ±1.0 pm  | ±2.0 pm  | 
功率精度  | ±0.2 dB  | 
偏振测量  | 两个正交偏振态,选配Option 30支持PDL测量  | 
输出功率  | >0 dBm  | 
灵敏度  | 70 dBm (IL) -45 dBm (RL)  | 
校准输入范围  | -10 to -70 dBm  | 
无杂散动态范围  | >80 dB  | 
测量时间  | 1 s for 100 nm  | 
选配30 – 偏振测量  | 
偏振测量重复性  | ±5°  | 
温度相关性  | ±0.2°/°C  | 
偏振灵敏度  | -40 dBm  | 
偏振串扰  | <20 dB  | 
测量时间  | 6 scans at 20 nm/s  | 
选配40 – 相位测量  | 
波长范围  | 1516-1565 nm  | 1525-1615 nm  | 1265-1345 nm  | 
带宽  | 全跨度80 MHz  | 
Pattern frequency range  | 70 MHz to 2 GHz  | 
相位精度  | ±1°  | 
灵敏度  | -70 dBm  | 
电参考输入功率  | +5 to -15 dBm  | 
测量时间  | 1 s for 20 nm  | 
 HDCA超高分辨率器件分析仪
参数指标
  | HDCA 400  | HDCA 100  | 
测量波段  | C+L, O  | C+L, O  | 
性能参数  | 
波长范围  | 1510-1620 nm (C+L) 1265-1345 nm (O)  |  取决于TLS型号  | 
波长精度  | ±0.5 pm (Typ.)  | 取决于TLS型号  | 
波长重复性  | ±0.15 pm (Min.) ±0.35 pm (Typ.)  | 取决于TLS型号 可选配高性能指标  | 
分辨率  | 0.3 MHz (0.0024 pm) (Min.) 1 MHz (Typ.)  | 取决于TLS型号  | 
通道数  | 1到4  | 
校准输入功率范围  | +10 to -90 dBm  | 
动态范围  |                          IL  | >85 dB @ 100 nm/s  | 
                         RL  | > 55 dB  | 
功率精度       |                          IL  | ±0.1 dB (Typ.)  | 
                         RL  | ±0.5 dB (Typ.)  | 
功率分辨率  | 0.001 dB  | 
偏振测量  | 两个正交偏振 PDL测量取决于配置选项  | 
PDL 精度  | ±0.04 dB  | 
PDL 重复性  | ±0.02 dB  | 
输出功率  | 0 dBm (Min.) 0 to 30 dB 衰减 (可选配)  | 取决于TLS型号 0 to 30 dB 衰减 (可选配)  | 
扫描速度  | 1 to 400 nm/s     100 nm/s (Typ.)  | 取决于TLS型号     100 nm/s (Typ.)  | 
数据点数  | 10 Million  | 
测量时间  | 0.4 sec @ 400nm/s C+L 波段  | <1 sec (Typ.)  | 
参考测量  | 有  | 
波长校准  | 有  |