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超高分辨率光谱分析仪 BOSA
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超高分辨率光谱分析仪 BOSA

所属分类: 测试仪表 >> 光谱测试

关键词:超高分辨率、宽动态范围、光谱分析仪


电 话:19800239780 (微信同步)

邮 箱:sales@topphotonics.cn

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商品描述

所属分类: 测试仪表 >> 光谱测试

关键词:超高分辨率、宽动态范围、光谱分析仪


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产品简介

BOSA  超高分辨率光谱分析仪基于受激布里渊效应进行光谱分析,可以获得高达 0.08pm(10MHz)的光谱分辨率以及 80dB 的动态范围。可调激光光源(TLS)输出的光作为参考光,与信号光(待测光)在光纤介质中逆向传输,当信号光与参考光之间的波长差位于狭窄的布里渊放大窗口(0.08pm,10MHz)时,布里渊背向散射光增强。通过调谐 TLS 的输出波长,并探测布里渊背向散射光,从而实现对信号光的光谱分析。 


主要特点

▪   超高分辨率0.08pm
▪   最高的波长精度0.5pm
▪   宽动态范围  >80dB
▪   实时测量改为 偏振态测量和分析

▪   实时测量
▪   内置可调激光光源
▪   独有的相位光谱测量,啁啾测量,眼图、星座图测量功能
▪   12.1英寸彩色触摸屏

主要应用
▪   激光器特性分析
▪   光纤通信调制格式分析
▪   无源器件测量
▪   100G/400G收发模块测量
▪   调制格式测量:OFDM,Nyquist,QAM,DP-QPSK

▪   脉冲激光器&光学频率梳


参数指标


BOSA   400/100

BOSA   Lite

测量波段

C, C+L, O, O+C+L

C, C+L

性能参数

光学分辨率

10 MHz @1550 nm

10 MHz @1310 nm

20 MHz @1550 nm

波长范围

1525-1565 nm (C)

1525-1615 nm (C+L)

1265-1345 nm (O)

1265-1345 nm, 1525-1615 nm (O+C+L)

1525-1565 nm (C)

1525-1605 nm (C+L)

波长精度

±0.5 pm (C, C+L)

±1.0 pm (O)

±2.0 pm

无杂散动态范围

>80 dB

近峰动态范围

>40 dB @ ±0.2 pm

>60 dB @ ±0.4 pm

>40 dB @ ±0.8 pm

>60 dB @ ±2.0 pm

校准输入功率范围

+13 to -70 dBm

最大安全输入总功率

+20 dBm

灵敏度

-70 dBm / 10 MHz

功率精度

±0.5 dB

偏振测量

两个正交偏振态

Option 30支持全偏振态测量

扫描时间

20 nm/s

2.5 nm/s

波长校准

可选配


可选配置


BOSA400 / 100 / Lite

测量波段

C波段

C+L波段

O 波段

Option 10 - 可调激光输出

波长范围

1516-1565 nm

1521-1630 nm

1265-1345 nm

绝对精度

±1.5 pm

±2.0 pm

调谐速度

1-100 nm/s

输出功率

>1 mW

边模抑制比

>43 dB

>45 dB

RIN

<-145 dB/Hz

<-140 dB/Hz

线宽

<1 MHz

触发输出

BNC

Option 20 – 器件分析

波长范围

1516-1565 nm

1521-1630 nm

1265-1345 nm

绝对精度

±1.0 pm

±2.0 pm

功率精度

±0.2 dB

偏振测量

两个正交偏振态,选配Option 30支持PDL测量

输出功率

>0 dBm

灵敏度

70 dBm (IL)

-45 dBm (RL)

校准输入范围

-10 to -70 dBm

无杂散动态范围

>80 dB

测量时间

1 s for 100 nm

选配30 – 偏振测量

偏振测量重复性

±5°

温度相关性

±0.2°/°C

偏振灵敏度

-40 dBm

偏振串扰

<20 dB

测量时间

6 scans at 20 nm/s

选配40 – 相位测量

波长范围

1516-1565 nm

1525-1615 nm

1265-1345 nm

带宽

全跨度80 MHz

Pattern frequency range

70 MHz to 2 GHz

相位精度

±1°

灵敏度

-70 dBm

电参考输入功率

+5 to -15 dBm

测量时间

1 s for 20 nm



HDCA超高分辨率器件分析仪

参数指标


HDCA 400

HDCA 100

测量波段

C+L, O

C+L, O

性能参数

波长范围

1510-1620 nm (C+L)

1265-1345 nm (O)

 取决于TLS型号

波长精度

±0.5 pm (Typ.)

取决于TLS型号

波长重复性

±0.15 pm (Min.)

±0.35 pm (Typ.)

取决于TLS型号

可选配高性能指标

分辨率

0.3 MHz (0.0024 pm) (Min.)

1 MHz (Typ.)

取决于TLS型号

通道数

1到4

校准输入功率范围

+10 to -90 dBm

动态范围

                         IL

>85 dB @ 100 nm/s

                         RL

> 55 dB

功率精度     

                         IL

±0.1 dB (Typ.)

                         RL

±0.5 dB (Typ.)

功率分辨率

0.001 dB

偏振测量

两个正交偏振

PDL测量取决于配置选项

PDL 精度

±0.04 dB

PDL 重复性

±0.02 dB

输出功率

0 dBm (Min.)

0 to 30 dB 衰减 (可选配)

取决于TLS型号

0 to 30 dB 衰减 (可选配)

扫描速度

1 to 400 nm/s

    100 nm/s (Typ.)

取决于TLS型号

    100 nm/s (Typ.)

数据点数

10 Million

测量时间

0.4 sec @ 400nm/s C+L 波段

<1 sec (Typ.)

参考测量

波长校准




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