产品简介多通道光功率及光谱测试系统是拓普光研自主研发的光学测试系统，该系统配合外配光谱仪可实现多个光路光功率和光谱信号的同时测量。该系统集测试、采集、计算、存储等功能于一体，省去了传统实验中需要反复插拔连通光路的繁琐步骤，有效的解决了光学测试中需要重复测量多个光路信号的问题。系统方便、实用、精度高，最多可同时测量 8 条光路通道，在企业单位和科研院校都有很好的应用。
主要特点
▪ 多通道光功率及光谱信息自动测试、采集、计算、存储
▪ 可同时获得光功率、平均波长、中心波长、3dB 带宽等信息
▪ 适用于 Yokogawa、Agilent 公司光谱分析仪
▪ 八通道自由选择，轮询检测
▪ 系统集约化高，综合性价比高
参数指标
参数
| 指标
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通道数
| 8
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光功率测试波长
| 1310nm / 1550nm
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光功率测量范围
| -50~+23dBm
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显示分辨率
| 0.01dB
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插入损耗
| ≤2.0dB
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准确度
| ≤±0.8dB
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非线性
| ≤5%
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分光比例（光谱、光功率分光测量）
| 50:50
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光谱测量范围
| 由外配光谱仪决定
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光谱测量分辨率
| 由外配光谱仪决定
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光谱测量精度
| 由外配光谱仪决定
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扫描速度
| 2s / 通道
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测量时间
| 用户设定
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光功率通信接口
| RS232-USB
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光谱仪通信接口
| GPIB-USB / 网口
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数据存储格式
| csv表格
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工作温度范围
| 0～55℃
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