偏振相关损耗测试仪 PL2000

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偏振相关损耗测试仪 PL2000

所属分类：测试仪表及测试系统 >> 偏振测试仪表

产品型号：ER2200

关键词：PDL,偏振相关损耗,插入损耗测量

联系电话：13811159447

座机号：010-59780025

邮箱：bo_yang@topphotonics.cn

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商品描述

所属分类：测试仪表及测试系统 >> 偏振测试仪表

产品型号：ER2200

关键词：PDL,偏振相关损耗,插入损耗测量

联系电话：13811159447

座机号：010-59780025

邮箱：bo_yang@topphotonics.cn

偏振相关损耗测试仪 PL2000

产品简介

在光纤通信系统中，器件的 PDL（偏振相关损耗）能够导致信号变形和劣化。因此，对于器件生产商来说，准确有效的 PDL 测试是非常重要的。PL2000 采用偏振扫描技术（TIA/EIA-455-157）进行 PDL 测量，这使其拥有全球最快的测量速度，同时确保极高的测量精度。此外，PL2000 还集成了功率、插入损耗测量，是 WDM 器件和偏振相关器件 PDL、IL 测量必不可少的设备。

主要特点

● 偏振扫描技术（全态法）

● 全光纤结构

● 同时精确测量PDL、IL

● 光功率测量功能

● 快速测量、无需校准

● GPIB、RS232通信接口

参数指标

参数	指标
PDL测量波长范围	1310~1620nm
PDL测量分辨率	0.1，0.01，0.001dB
PDL测量精度	≤±（0.010 + 5% of PDL）dB（最大值） ≤±（0.010 + 2% of PDL）dB（典型值）
PDL测量速度	0.1s（典型值）
PDL测量范围	0~5dB
IL测量波长范围	1310nm，1520~1620nm
IL测量分辨率	0.1，0.01，0.001dB
IL测量精度	≤±（0.1 + 2% of IL）dB
IL测量速度	0.1s（典型值）
IL测量范围	50dB
功率测量精度	±0.2 dB @ -10dBm
功率测量范围	-57 ~+3dBm
工作温度	10~40℃
存储温度	0~60℃
尺寸	225×88×420mm