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老化测试系统 COC Burn-In Tester
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老化测试系统 COC Burn-In Tester

属分类: 光电自动化>> 耦贴封测


关键词:芯片老化,芯片测试,COC老化,COC测试


电 话:19800239780 (微信同步)

邮 箱:sales@topphotonics.cn

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商品描述

属分类: 光电自动化>> 耦贴封测


关键词:芯片老化,芯片测试,COC老化,COC测试


电 话:19800239780 (微信同步)

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产品简介
COC Burn-In Tester是专门针对COC器件的老化测试开发的一款设备。设备主体采用框架式结构,载具采用可分离式“抽屉”形式,每个抽屉可独立控温。载具采用标准快插式电气接口,可根据不同产品设计不同载具在同一测试平台内测试。

主要特点
▪   过流保护
▪   过温和欠温保护
▪   可编程温度上升速率,减少热冲击
▪   最小化操作瞬变
▪   减少过载和浪涌瞬变
▪   可同时测试1408颗产品
▪   系统可控制不同抽屉独立测试
▪   参数配置灵活
▪   数据记录功能
▪   数据备份功能
▪   多种通讯接口

主要应用
▪   高功率半导体激光器老化
▪   半导体激光器老化
▪   高功率半导体激光器寿命测试
▪   半导体激光器寿命测试
▪   光电有源器件老化
▪   光电有源器件寿命测试



参数指标

参数

指标

设备容量1408(可定制)

层数

11

载具数/层

4

芯片数/载具

32

芯片类型

EML COC、DFB COC、FP COC、LD  COC、SLD COC等

测试功能

ACC LIV PIV

老化测试时间

可根据工艺要求设定

Submount尺寸

可根据用户需求定制

温度

范围

25~150

精度

±2℃

稳定度

±0.5℃

ACC测试

电流范围

0.5mA~500mA

电流精度

0.1% F.S.

电流分辨率

50uA

电压范围

±3.5v

电压精度

±50mv

LIV测试

PD类型

InGaAs / Si

波长范围

850~1600nm、可定制

电流测量范围

2uA—2000uA

电流测量精度

±2uA

电流测量分辨率

0.5uA

Bias电压范围

±8v

Bias电压精度

±0.25v

光功率测量范围

0~500mv

光功率测量稳定性

±0.1% of F.S.

驱动与测量时间

<2.0s

EA功能

EAM电压设定范围

-5.00~-0.01v

EAM电压精度

±100mv

EAM电压分辨率

±10mv

EAM电压稳定性

±30mv

EAM电流范围

0~100mA

EAM电流测试精度

±0.15mA

EAM电流测试分辨率

±0.1mA












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