产品简介
DAISI 3D干涉仪是一款国际流行的全自动非接触光学连接器3D干涉仪，具有红光和白光两种扫描测量模式，利用闭环控制达到30微米Z轴方向扫描范围，具有振动不敏感的特点。可快速自动聚焦，基准镜面自动校准，可测量所有种类的单芯和多芯光学连接器，对于多芯连接器单次扫描96芯光纤，12芯及16芯连接器测量时间小于9秒，测试结果及内置标准符合各项行业及国内、国际标准。
主要应用
▪ PC型单芯光纤光学连接器3D测量
▪ APC型单芯光纤光学连接器3D测量
▪ PC型多芯光纤光学连接器3D测量
▪ PC型单多芯光纤光学连接器3D测量
参数指标
参数
| 指标
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曲率半径测量范围
| 单芯：3 mm ~ ∞
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曲率半径测量重复性
| 单芯：±0.05%
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曲率半径测量再现性
| 单芯：±0.05%
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顶点偏移测量范围
| 单芯：0 ~ 500 μm
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顶点偏移测量重复性
| 单芯：±0.5 μm
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顶点偏移测量再现性
| 单芯：±1 μm
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光纤高度测量范围
| ±160 nm（±20000 nm 白光模式）
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光纤高度测量重复性
| 单芯：±1 nm /多芯：3 nm
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光纤高度测量再现性
| 单芯：±1.5 nm /多芯：10 nm
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角度测量范围
| 单芯：0 ~ 12° / 多芯：-1 ~ 9°
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角度测量重复性
| 单芯：±0.01°/ 多芯：0.002°
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角度测量再现性
| 单芯：±0.015° / 多芯：0.02°
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测量速度
| 单芯：1 S / 多芯：扫描6 S，拟合图像3 S
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光源波长
| 633 nm和白光
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电源要求
| 12 V直流
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温度
| 10 ~ 35 ℃
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湿度
| 5 ~ 95 % 非结露
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自动聚焦速度
| 典型值3 S
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视野
| 最大：5.6 * 3.0 mm
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横向显示精度
| 2.5 μm
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电脑连接要求
| USB 2.0 / USB 3.0
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