产品简介
荧光寿命成像仪可以提供荧光强度（光子数）和光子寿命的空间分布，具有200 nm的空间分辨率和皮秒量级的时间分辨率。通过双光子激发（结合飞秒脉冲和共焦显微镜）可以直接检测荧光和时间分辨的荧光寿命。这种无损检测技术，无需解剖或专门制造分层样品，不仅可在样品表面，还可在样品表面以下实现深度解析测量。特别适用于新材料、光子学、光伏、光催化、生物材料、纳米材料和纳米复合材料以及其相关的原理探究和设计优化。
参数指标
▪ 波长：532nm
▪ 成像采样速率：0.1Hz
▪ 视场：50μm×50μm×30μm
▪ 成像分辨率：X&Y: 200nm, Z: 700nm
▪ 时间分辨率：皮秒量级（飞秒量级，可定制）
