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Hamamatsu 膜厚仪
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Hamamatsu 膜厚仪

所属分类： 其他应用  >>  半导体

关键词：薄膜、厚度检测、镜片、镀膜


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邮 箱：sales@topphotonics.cn

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关键词：薄膜、厚度检测、镜片、镀膜


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HAMAMATSU膜厚测量系统，采用激光干涉测量和光谱干涉测量的非接触式高精度厚度测量系统。可测量范围从10nm到2900μm，对离焦和角度无关，聚焦测量稳定性高，角度漂移稳定性高。可广泛用于薄膜、触摸平板、平板显示、半导体等加工过程厚度测量。

















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